基于过程免疫时间的半导体企业电压暂降经济损失预评估方法
张旭彬， 张逸， 张孔林， 李为明， 郭庆波， 李俭华
Economic losses pre-evaluation of semiconductor enterprise due to voltage sags based on process immunity time
ZHANG Xu-bin, ZHANG Yi, ZHANG Kong-lin, LI Wei-ming, GUO Qing-bo, LI Jian-hua
电工电能新技术
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2018, (6): 43
-49
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DOI: 10.12067/ATEEE1712012
