基于过程免疫时间的半导体企业电压暂降经济损失预评估方法

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电工电能新技术 ›› 2018, Vol. 37 ›› Issue (6) : 43-49. DOI: 10.12067/ATEEE1712012

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Economic losses pre-evaluation of semiconductor enterprise due to voltage sags based on process immunity time

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2018, 37(6): 43-49 https://doi.org/10.12067/ATEEE1712012

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2018, 37(6): 43-49 https://doi.org/10.12067/ATEEE1712012

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